蔡司顯微光學解決方案

簡要描述：蔡司顯微光學解決方案：借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

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廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商
更新時間：2024-09-18
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詳細介紹

　　蔡司MultiSEM電子顯微鏡開啟電子顯微鏡速度的革新時代

　　借助 MultiSEM 顯微鏡，您可以充分運用 91 條并行電子束的采集速度?，F(xiàn)如今，您能夠以納米分辨率對厘米級樣品成像。這款出色的掃描電子顯微鏡(SEM)專為 7 x 24 小時的連續(xù)、可靠運行而設計。只需簡單設置高性能數(shù)據(jù)采集流程，MultiSEM 便能夠獨立地自動完成高襯度圖像采集。

　　技術(shù)參數(shù)：

　　MultiSEM 同時運用了多條電子束(綠色：照明通路)和多個探測器。微調(diào)探測通路能夠收集大量的二次電子(SE)用于成像。與分光鏡組合使用，可讓二次電子信號到達(紅色：探測通路)多探測器陣列。每條電子束在樣品的一個位置執(zhí)行同步掃描程序，以此獲得單個拼片圖像。電子束呈六邊形排列。通過合并所有圖像拼片生成整幅圖像。

　　并行計算機設置程序用于快速記錄數(shù)據(jù)，確保整體高成像速度。圖像采集和工作流程控制在 MultiSEM 顯微鏡中獨立。

特點：

　　高速度和納米分辨率采集圖像

　　91 條電子束同時工作，擁有出色的成像速度。

　　在幾分鐘內(nèi)對1 mm²的區(qū)域成像，分辨率高達 4 nm。

　　借助經(jīng)優(yōu)化的二次電子探測器，以低信噪比采集高襯度圖像。

　　大型樣品的采集和成像

　　MultiSEM 配備有一個可容納 10 cm x 10 cm 大小樣品的樣品夾。對整個樣品成像并發(fā)現(xiàn)所有細節(jié)，助力于科研。自動采集方案可實現(xiàn)大面積成像 - 您將獲得精細的納米圖像，且不丟失可見信息。

　　ZEN 成像軟件

　　使用成熟的ZEN軟件簡便直觀地操控 MultiSEM，該軟件被應用于所有蔡司成像系統(tǒng) 智能化自動調(diào)節(jié)程序能夠幫助您以高分辨率和高襯度捕獲圖像根據(jù)樣品的實際情況，快速輕松地創(chuàng)建復雜的自動采集流程 MultiSEM的ZEN 軟件可高速進行連續(xù)并行成像開放的API軟件接口可提供靈活快速的應用開發(fā)

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