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分析型掃描電子顯微鏡

簡要描述:分析型掃描電子顯微鏡EVO 18將高性能掃描電子顯微鏡與直觀、用戶友好的體驗相結(jié)合,對受過培訓(xùn)的顯微鏡專家和新用戶都有吸引力。無論您是在生命科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域,還是在常規(guī)工業(yè)質(zhì)量保證和故障分析領(lǐng)域,EVO都可以根據(jù)您的需求進行精確定制。

  • 產(chǎn)品型號:EVO 18
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-18
  • 訪  問  量:770

詳細(xì)介紹

   蔡司EVO系列用于直觀操作、日常調(diào)查和研究應(yīng)用的模塊化SEM平臺

   EVO系列儀器將高性能掃描電子顯微鏡與直觀、用戶友好的體驗相結(jié)合,對受過培訓(xùn)的顯微鏡專家和新用戶都有吸引力。無論您是在生命科學(xué)、材料科學(xué)領(lǐng)域,還是在常規(guī)工業(yè)質(zhì)量保證和故障分析領(lǐng)域,EVO都可以根據(jù)您的需求進行精確定制。

   中央顯微鏡設(shè)施或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的通用解決方案

   來自任何真實樣本的出色圖像

   使用六硼化鑭獲得最佳圖像質(zhì)量(實驗室6)發(fā)射器

   非導(dǎo)電和無涂層的成像和分析

   工作流自動化和數(shù)據(jù)完整性

   總體描述

   EVO18是一款具有處理各種材料能力的分析型顯微鏡,為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì)。

   標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS&WDC)接口,另有用于高級形貌與化學(xué)分析的全集成式顆粒分析和識別解決方案可供選擇。通過升級LaB6高亮度光源將與X射線分析相關(guān)的探針電流性能提升至一個全新的水準(zhǔn)。

   EVO18掃描電鏡的五象限背散射電子探測器(BSE)有助于增強低電壓性能及提供更豐富的形態(tài)信息。對于非導(dǎo)電樣品,電子束襯管技術(shù)可有效提高分辨率。

   EVO18Research是學(xué)術(shù)和研究機構(gòu)使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO18Research為您提供優(yōu)異的成像品質(zhì),具有處理多種材料的能力。結(jié)合SmartSEM軟件的易用性,使其成為多種研究應(yīng)用的合適之選,范圍涵蓋半導(dǎo)體和電子技術(shù)、地質(zhì)科學(xué)及材料研究。

   技術(shù)參數(shù):

   EVO18Research可通過以下附加選件來滿足您的應(yīng)用需求:

   •SmartBrowse

   •SmartStitch

   •探測器選件

   特點:

   業(yè)內(nèi)先進的X射線幾何結(jié)構(gòu)以及標(biāo)配能譜儀和波譜儀(EDS&WDS)

   •五象限背散射電子探測器(BSE)為您提供更豐富的形態(tài)信息

   •可變電壓功能用于分析較少制備的非接觸式樣品

   •可移動的顯微鏡樣品臺用于觀察大型樣品

   •配備鎢光源和可供選擇的LaB6光源

   •優(yōu)質(zhì)的生產(chǎn)工藝,曾榮獲2011年英國最佳電子電氣工廠獎以及歐特克產(chǎn)品與工藝大獎

蔡司EVO 10蔡司EVO 15蔡司EVO 25
選擇EVO 10——帶有可選的反向散射檢測器和元素EDS系統(tǒng)——作為掃描電子顯微鏡的入門產(chǎn)品,價格非常實惠。即使是這個最小的EVO真空室也與桌面SEM有很好的區(qū)別。現(xiàn)在,您對EVO的投資可以確保您為需要比您現(xiàn)在預(yù)期的更多空間和端口的應(yīng)用程序做好準(zhǔn)備。EVO 15展示了EVO系列的靈活性概念,在分析應(yīng)用中表現(xiàn)出色.選擇EVO 15的更大真空室,并增加可變壓力以對非導(dǎo)電樣品或零件進行成像和分析,您將擁有一個適用于中央顯微鏡設(shè)施或工業(yè)質(zhì)量保證實驗室的多功能、多用途解決方案。EVO 25是工業(yè)用的解決方案,有足夠的空間容納最大的零件和組件。通過可選的80毫米Z移動平臺進一步擴展EVO 25的功能,即使傾斜也可以處理高達2千克的重量。此外,大室將容納多個分析檢測器,用于微量分析應(yīng)用。
最大樣本高度100毫米145毫米210毫米
最大樣品直徑230毫米250毫米300毫米
機動舞臺旅行XYZ80x100x35毫米125x125x50毫米130x130x50(或80)毫米
高真空(HV)模式???
對導(dǎo)電樣品進行最佳質(zhì)量的成像和分析
可變壓力(VP)模式???
對未涂覆的非導(dǎo)電樣品進行高質(zhì)量成像和分析
擴展壓力(EP)模式???
自然狀態(tài)下水合或污染樣品的環(huán)境成像



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